摘要: 全球新冠疫情与逆全球化等大变局冲击下,我国产业技术链面临巨大风险。识别产业技术链风险,需要基于科学的评价方法对其进行全面评估。针对产业技术链风险研究的理论争议和测度方法问题,基于技术差距和资源依赖理论,构建“技术水平差距、技术价值和可替代性”三维度的风险测度模型。选择芯片领域3大环节、共15个主要技术为样本,443285条发明专利数据,测度中国内地[ 本文使用中国内地专利发明数据的原因如下:一方面,由于技术保护受地理区位限制,中国台湾的发明专利并不能被中国内地直接使用;另一方面,虽然中国台湾在芯片制造领域具有较强的技术能力,但经过专利统计分析发现,中国台湾拥有的发明专利大部分是由美国和日本等申请并控制的,中国台湾作为专利申请人的发明专利占比较少。 ]、日本、韩国、美国、欧洲等五国(地区)芯片产业技术链的结构、运行情况、面临的风险及多阶段演化特征。研究发现,日本和美国的芯片产业技术链的风险指数最小,中国内地面临的风险最大;美国在IC设计环节、日本在IC制造环节的风险指数长期处于最低位置,韩国和欧洲在各环节均面临一定风险,中国内地在各环节面临的风险均呈下降趋势,但仍较大。研究丰富了产业技术链风险的理论内涵及测度维度。基于发明专利数据的全量化测度方法,为全面开展产业技术链风险评价提供了新的方法论。研究结果对国际技术形势研判、产业链风险预测和排查、提高产业技术链韧性等具有启示意义。